Qu'est-ce que Défaut de collage (stuck-at fault) ?
Modèle de défaut de base pour le test des circuits logiques, qui suppose qu'une ligne de signal reste bloquée à 0 ou à 1. Aussi appelé défaut stuck-at.
Nom japonais: 縮退故障
Domaine: Test et inspection
Termes associés
ATE (équipement de test automatique) ATPG (génération automatique de vecteurs de test) BIST (autotest intégré) Carte à pointes (probe card) Déverminage (burn-in) DFT (conception en vue du test) KGD (Known Good Die) Taux de couverture des fautes (fault coverage) Test IDDQ Test par scan