BIST(組み込み自己テスト)란?
びすと
テスト用の回路をチップ内に組み込み、チップ自身でテストパターンの生成と結果の判定を行う仕組み。メモリのテストなどで広く使われる。
일본어 명칭: BIST(組み込み自己テスト)
분야: 테스트와 검사
관련 용어
故障検出率(フォールトカバレッジ) 縮退故障 ATE(自動試験装置) ATPG(自動テストパターン生成) DFT(テスト容易化設計) IDDQテスト KGD(ノウングッドダイ) ウエハテスト(プローブテスト) スキャンテスト バーンイン
びすと
テスト用の回路をチップ内に組み込み、チップ自身でテストパターンの生成と結果の判定を行う仕組み。メモリのテストなどで広く使われる。
일본어 명칭: BIST(組み込み自己テスト)
분야: 테스트와 검사
故障検出率(フォールトカバレッジ) 縮退故障 ATE(自動試験装置) ATPG(自動テストパターン生成) DFT(テスト容易化設計) IDDQテスト KGD(ノウングッドダイ) ウエハテスト(プローブテスト) スキャンテスト バーンイン