Qu'est-ce que Test IDDQ ?
Test qui mesure le courant d'alimentation d'un circuit CMOS au repos et conclut à un défaut, tel qu'un pont, si ce courant est anormalement élevé.
Nom japonais: IDDQテスト
Domaine: Test et inspection
Termes associés
ATE (équipement de test automatique) ATPG (génération automatique de vecteurs de test) BIST (autotest intégré) Carte à pointes (probe card) Défaut de collage (stuck-at fault) Déverminage (burn-in) DFT (conception en vue du test) KGD (Known Good Die) Taux de couverture des fautes (fault coverage) Test par scan