n型半導体とp型半導体の違い:ドーパント・多数キャリア・フェルミ準位・移動度を比較
n型半導体は、シリコンにリンやヒ素などのV族の不純物(ドナー)を加え、余った電子を多数キャリアにしたものです。p型半導体は、ホウ素などのIII族の不純物(アクセプタ)を加え、電子が足りずにできた正孔を多数キャリアにしたものです。フェルミ準位は、n型では伝導帯側、p型では価電子帯側に寄ります。シリコンでは電子の移動度が正孔の約2〜3倍あるので、同じ不純物濃度ならn型の方が抵抗率が低くなります。
| 項目 | n型 | p型 |
|---|---|---|
| 添加する不純物(シリコン) | V族のリン(P)、ヒ素(As)、アンチモン(Sb) | III族のホウ素(B)。ほかにインジウムなど |
| 不純物の呼び名と働き | ドナー。電子を1個与える | アクセプタ。電子を1個受け取り、価電子帯に正孔をつくる |
| イオン化した不純物の電荷 | 正。格子に固定されて動かない | 負。格子に固定されて動かない |
| 不純物の準位(シリコン) | 伝導帯の下端から約0.045 eV(リン)、約0.054 eV(ヒ素) | 価電子帯の上端から約0.045 eV(ホウ素) |
| 多数キャリア/少数キャリア | 電子/正孔 | 正孔/電子 |
| キャリア密度(すべてイオン化したとき) | n ≈ ND、p = ni² / ND | p ≈ NA、n = ni² / NA |
| フェルミ準位 | 真性フェルミ準位より伝導帯側。濃度が高いほど伝導帯に近づく | 真性フェルミ準位より価電子帯側。濃度が高いほど価電子帯に近づく |
| 多数キャリアの移動度(低濃度のシリコン、目安) | 電子で約1400 cm²/V·s | 正孔で約450 cm²/V·s |
| 同じ濃度での抵抗率 | 低い | n型の約2〜3倍高い |
| CMOSで使われる場所 | nMOSのソース・ドレイン、pMOSを作るnウェル | pMOSのソース・ドレイン、nMOSを作るpウェル。CMOS用のシリコンウエハにはp型が多い |
数値は代表的な目安で、世代や製品によって異なります。