為了減少掃描測試的資料量與測試時間，在晶片內展開測試圖樣並壓縮回應的技術稱為什麼？

正確答案：A. 測試壓縮（掃描壓縮）

在大規模LSI中，掃描測試的圖樣量會變得龐大，測試機的記憶體與測試時間成為問題。在測試壓縮中，會以晶片內的展開電路將少量的輸入資料分配給許多條較短的掃描鏈，輸出也由壓縮電路彙整後再比較。由於圖樣中大部分的位元是0或1皆可的值，因此可將資料量與測試時間減少到數十分之一以下。