在車用IC的認證試驗中，有時會以HAST（在約130 ℃、85%RH的加壓水蒸氣中施加偏壓的試驗）取代在85 ℃、85%RH下進行1000小時的高溫高濕偏壓試驗（THB），其主要理由是下列何者？

正確答案：A. 能加速濕氣侵入造成的腐蝕等故障，將需要1000小時的試驗縮短為100小時左右

HAST（Highly Accelerated Stress Test）是在超過100 ℃的溫度下加壓，並維持高濕度進行試驗的方法。提高溫度與水蒸氣壓，可使水分更快穿過封裝的樹脂到達晶片，從而加速電極的腐蝕或漏電流的增加等。例如一般會在130 ℃、85%RH下以96小時左右，進行相當於85 ℃、85%RH下1000小時的評估。這與軟錯誤或乾燥狀態的評估無關。