關於可測試性設計（DFT）之一的掃描設計，下列說明何者正確？

正確答案：C. 將電路內的正反器連接成位移暫存器的形式，使內部狀態的設定與觀測變得容易

在掃描設計中，會在各正反器的輸入加上切換用的選擇器，測試時將它們串接起來（掃描鏈），能從外部以位移方式設定任意值，並以位移方式讀出內部的值。由於循序電路的測試被轉換為組合電路的測試，因此可用ATPG自動產生高故障涵蓋率的測試圖樣。這與以顯微鏡掃描或電壓掃描是不同的事。