矽晶圓

為了高靈敏度地分析晶圓表面的金屬汙染,以氫氟酸蒸氣溶解表面的氧化膜,並以液滴回收後送入分析設備的前處理方法是哪一種?

  1. A四探針法
  2. BSEM觀察
  3. CVPD(氣相分解)法
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正確答案:C. VPD(氣相分解)法

在VPD法中,以氫氟酸蒸氣分解晶圓表面的自然氧化膜,再以少量液滴在其上掃描,收集並回收表面的金屬雜質。將回收的液體以ICP-MS或全反射螢光X光(TXRF)分析,就能以10⁸〜10⁹ atoms/cm²左右的靈敏度量測整片晶圓的金屬汙染。這是監控設備與藥液汙染、評估清洗製程不可或缺的方法。

  • A. 四探針法是量測電阻率的方法。
  • B. SEM觀察是看表面形狀的方法,不適合微量金屬的定量。
  • C. 正確。把表面的汙染收集到液滴中進行分析。
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