量測與分析
四探針法主要量測的是下列何者?
- A片電阻
- B膜的應力
- C表面的粗糙度
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正確答案:A. 片電阻
四探針法是將排成一直線的4根探針接觸試片,在外側2根通入電流,以內側2根量測電壓。由於量測電壓的探針幾乎沒有電流流過,因此不受接觸電阻影響即可量測片電阻。對於夠寬的薄膜,可由Rs=(π/ln2)×V/I≒4.53×V/I求得。用於擴散層與金屬膜的評估。應力是由晶圓的翹曲、粗糙度則是以AFM等來量測。
量測與分析
正確答案:A. 片電阻
四探針法是將排成一直線的4根探針接觸試片,在外側2根通入電流,以內側2根量測電壓。由於量測電壓的探針幾乎沒有電流流過,因此不受接觸電阻影響即可量測片電阻。對於夠寬的薄膜,可由Rs=(π/ln2)×V/I≒4.53×V/I求得。用於擴散層與金屬膜的評估。應力是由晶圓的翹曲、粗糙度則是以AFM等來量測。