蝕刻

在MEMS的犧牲層去除等情況中,不使用電漿即可對矽進行等向性蝕刻的氣體是下列何者?

  1. AO2(氧氣)
  2. BN2(氮氣)
  3. CXeF2(二氟化氙)
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正確答案:C. XeF2(二氟化氙)

XeF2是在室溫附近就會昇華的氣體,與矽自發性反應生成SiF4等,不需電漿即可對矽進行等向性蝕刻(2XeF2 + Si → 2Xe + SiF4)。它對氧化層、氮化層、光阻及多數金屬的選擇比高達1000以上,且因不使用液體而不易發生黏附(stiction),因此用於將MEMS結構從矽犧牲層中釋放出來。

  • A. 氧氣用於去除光阻等有機物。
  • B. 氮氣不會蝕刻矽。
  • C. 正確。是不需電漿即可蝕刻矽的氣體。
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