計測・分析

針状に加工した試料の先端から原子を1個ずつ電界で蒸発させ、その位置と種類を検出して、ドーパントなどの3次元の原子の分布を調べる分析法はどれか。

  1. Aアトムプローブトモグラフィ
  2. B光学顕微鏡
  3. C超音波顕微鏡
答えと解説を見る

正解:A. アトムプローブトモグラフィ

アトムプローブでは、FIBで針状に加工した試料に高い電圧とパルスをかけて、先端の原子を1個ずつイオンとして飛ばし、検出器に届いた位置と時間から元素の種類と元の位置を求めます。トランジスタの中のドーパントの3次元の分布などを、原子レベルで調べられます。

  • A. 正しい。原子を1個ずつ飛ばして3次元の分布を調べます。
  • B. 光学顕微鏡では原子の分布は見えません。
  • C. 超音波顕微鏡はパッケージ内部のはく離などを調べる装置です。
この分野を解く 分野ページへ

計測・分析のほかの問題

  1. 電極をつくらずに、ウエハの表面にコロナ放電で電荷を載せ、表面電位の変化を測って酸化膜や界面の電気的な特性を評価する方法はどれか。
  2. 動作させたチップの微小な発熱を、加える電力を周期的に変えて同期した熱画像を積算することで高感度に検出し、故障箇所を特定する手法はどれか。
  3. パッケージや基板の配線に高速のパルスを送り、反射してくる波形から断線やショートの位置を求める方法はどれか。
  4. 光を使う欠陥検査で、異物が小さくなるほど検出が急に難しくなる理由として正しいものはどれか。
  5. 複数の異なる計測手法(光学式・CD-SEM・AFMなど)のデータを組み合わせて、一つの手法だけより正確に寸法や形状を求める考え方を何と呼ぶか。