量測與分析

從加工成針狀的試片前端,以電場將原子一個一個蒸發,偵測其位置與種類,藉此調查摻雜物等的三維原子分布的分析法是下列何者?

  1. A原子探針斷層掃描術
  2. B光學顯微鏡
  3. C超音波顯微鏡
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正確答案:A. 原子探針斷層掃描術

原子探針是對以FIB將前端加工成100 nm左右針狀的試片,施加高電壓與脈衝,使前端的原子一個一個以離子形式飛出。由抵達偵測器的位置求出原本的位置,由飛行時間求出質量(元素的種類),重建三維的原子分布。可在原子等級調查電晶體中摻雜物的分布,但偵測效率並非100%。

  • A. 正確。使原子一個一個飛出以調查三維分布。
  • B. 以光學顯微鏡看不到原子的分布。
  • C. 超音波顯微鏡是調查封裝內部分層等的設備。
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