Testen en inspectie

Welke beschrijving van BIST (Built-In Self-Test) is juist?

  1. AAlle tests worden uitsluitend met een externe tester uitgevoerd
  2. BTestschakelingen worden in de chip opgenomen, zodat de chip zichzelf test
  3. CHet uiterlijk wordt met het menselijk oog geïnspecteerd
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Testschakelingen worden in de chip opgenomen, zodat de chip zichzelf test

Bij BIST zijn een patroongenerator en een beoordelingsschakeling voor de resultaten in de chip ingebouwd, zodat de chip de test zelf uitvoert. MBIST voor geheugens genereert snel patronen zoals de March-test, terwijl LBIST voor logische schakelingen pseudowillekeurige patronen gebruikt. Naast een lagere afhankelijkheid van dure testers en een kortere testtijd is er het voordeel dat chips voor auto's ook na de levering bij elke inschakeling zichzelf kunnen diagnosticeren.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Welke beschrijving van de probe card is juist?
  2. Welke beschrijving van het stuck-at-foutmodel (stuck-at fault) dat bij de test van logische schakelingen wordt gebruikt, is juist?
  3. Welke definitie van de foutdekking (fault coverage) van een testpatroon is juist?
  4. Wat is KGD (Known Good Die), dat belangrijk is bij het monteren van meerdere chips in één behuizing?
  5. Hoe heet de methode waarbij een tester meerdere chips gelijktijdig meet om de testkosten te verlagen?

Vergelijkingen bij dit onderwerp