Nederlands
Menu

Testen en inspectie

Hoe heet de methode waarbij een tester meerdere chips gelijktijdig meet om de testkosten te verlagen?

  1. ABurn-in
  2. BMultisite-test (gelijktijdige meting)
  3. CWirebonding
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Multisite-test (gelijktijdige meting)

De testkosten zijn bij benadering evenredig met de tijd dat de dure tester wordt gebruikt. Bij de multisite-test meet één tester meerdere chips parallel, waardoor de testtijd en de kosten per chip dalen. Bij geheugentests worden soms honderden chips tegelijk gemeten. Omdat er evenveel testerkanalen nodig zijn als er chips tegelijk worden gemeten, wordt dit gecombineerd met maatregelen om het benodigde aantal pennen te verminderen, zoals BIST en scancompressie.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Hoe heet het automatisch genereren van testpatronen voor het detecteren van fouten uit de netlijst van een schakeling?
  2. Hoe heet de test waarbij de voedingsstroom van een CMOS-schakeling in rusttoestand wordt gemeten om defecten zoals bridging-fouten te detecteren?
  3. Wat is het belangrijkste gebruik van boundary scan volgens IEEE 1149.1 (JTAG)?
  4. Welk apparaat voert in de eindtest na het verpakken, in combinatie met de tester, ICs automatisch toe en sorteert ze op basis van het testresultaat?
  5. Hoe heet een tweedimensionale grafiek waarin de slaag-/faalresultaten worden samengevat terwijl voorwaarden zoals voedingsspanning en bedrijfsfrequentie worden gevarieerd?

Vergelijkingen bij dit onderwerp