Halfgeleiders voor auto's en functionele veiligheid
Wat is vanuit functionele veiligheid het belangrijkste doel van het uitvoeren van logic-BIST en memory-BIST in een microcontroller voor auto's bij het inschakelen of vóór het rijden?
- ALatente fouten opsporen die bij normale werking niet aan het licht komen, zoals in de veiligheidsmechanismen zelf, en zo de latent fault metric (LFM) verhogen
- BDe test vóór levering in de productiefabriek overslaan en zo de testkosten wegnemen
- CDe klokfrequentie van de CPU automatisch verhogen om de verwerking tijdens het rijden te versnellen
Antwoord en toelichting tonen
Antwoord: A. Latente fouten opsporen die bij normale werking niet aan het licht komen, zoals in de veiligheidsmechanismen zelf, en zo de latent fault metric (LFM) verhogen
Ook als veiligheidsmechanismen zoals het correctiecircuit van de ECC of de comparator defect zijn, komt dat bij normale werking niet aan het licht en blijft het als latente fout bestaan. Door bij het inschakelen met logic-BIST of memory-BIST de eigen schakelingen van de chip te testen, kunnen zulke fouten vóór het rijden worden gevonden en kan de LFM worden verhoogd. Het uitvoeren van BIST kost tijd en in die tijd is geen normale verwerking mogelijk, dus bij het ontwerp wordt ook rekening gehouden met de tijdsbeperkingen bij het opstarten. Het is geen vervanging van de leveringstest en dient niet om de verwerking te versnellen.
Verder: nog 9 vragen over Halfgeleiders voor auto's en functionele veiligheid