Nederlands
Menu

Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

Welk diagram toont het verband tussen een probleem (resultaat) en de factoren die dit beïnvloeden in de vorm van een visgraat?

  1. AParetodiagram
  2. BHistogram
  3. COorzaak-gevolgdiagram
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: C. Oorzaak-gevolgdiagram

In een oorzaak-gevolgdiagram wordt het probleem (kenmerk) aan de rechterkant geplaatst en worden de beïnvloedende factoren onderverdeeld in grote graten zoals mens, machine, materiaal en methode (4M), met daaraan kleinere graten voor gedetailleerdere factoren. Vanwege de vorm heet het ook visgraatdiagram, en naar de bedenker ook Ishikawa-diagram. Het is een van de zeven QC-hulpmiddelen en helpt om kandidaat-oorzaken van defecten volledig in kaart te brengen. Een paretodiagram toont de rangorde van aantallen en een histogram de verdeling.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

  1. Wat is het belangrijkste doel van het analyseren van een wafermap, waarin de wafertestresultaten per chippositie op de wafer als goed of defect zijn weergegeven?
  2. Met welke factor neemt het waferoppervlak bij benadering toe wanneer de waferdiameter bij verder gelijke voorwaarden van 200 mm naar 300 mm gaat?
  3. Welk voorbeeld in een regelkaart moet als afwijking worden beoordeeld, ook al liggen alle punten binnen de regelgrenzen?
  4. Hoe groot is de yield bij benadering volgens het Poissonmodel Y = exp(−D × A) bij een defectdichtheid D = 0,1 per cm² en een chipoppervlak A = 1 cm²?
  5. Hoe heet een defect op de wafer dat daadwerkelijk een elektrisch defect van de chip veroorzaakt?