Nederlands
Menu

Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

Hoe groot is de yield bij benadering volgens het Poissonmodel Y = exp(−D × A) bij een defectdichtheid D = 0,1 per cm² en een chipoppervlak A = 1 cm²?

  1. ACirca 50 %
  2. BCirca 90 %
  3. CCirca 99 %
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Circa 90 %

D × A = 0,1 × 1 = 0,1, dus Y = exp(−0,1) ≈ 0,905, dat is circa 90 %. Bij een kleine D × A kan Y ≈ 1 − D × A worden benaderd en is het gemiddelde aantal defecten rechtstreeks het defectpercentage. Bij dezelfde defectdichtheid en een chipoppervlak van 5 cm² daalt de yield tot exp(−0,5) ≈ 61 %. Circa 50 % is de waarde bij D × A ≈ 0,7 en circa 99 % de waarde bij D × A ≈ 0,01.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

  1. Hoe heet een defect op de wafer dat daadwerkelijk een elektrisch defect van de chip veroorzaakt?
  2. Welk diagram deelt gegevens in een aantal klassen in, toont de frequenties als staven en laat de vorm van de spreidingsverdeling zien?
  3. Welke procescapabiliteitsindex wordt gebruikt wanneer het procesgemiddelde van het midden van de specificatie is verschoven?
  4. Welke regeling corrigeert automatisch de procesvoorwaarden van de apparatuur voor het volgende lot of de volgende wafer op basis van onder meer de meetresultaten van het voorgaande proces?
  5. Welke methode brengt mogelijke faalwijzen van een product of proces in kaart, beoordeelt het effect en de ernst daarvan en treft vooraf maatregelen?