Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

Hoe heet een defect op de wafer dat daadwerkelijk een elektrisch defect van de chip veroorzaakt?

  1. AKiller defect
  2. BValse defecten
  3. CNuisance defect
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. Killer defect

Niet elk bij inspectie gevonden defect leidt tot een defect product. Een defect dat een elektrisch defect veroorzaakt, zoals een groot vreemd deeltje dat zich over meerdere verbindingen uitstrekt, heet een killer defect. Uit de grootte, positie en laag van het defect wordt de kill ratio (het aandeel dat defect wordt) geschat om de invloed op de yield te voorspellen. Defecten die geen uitval veroorzaken en valse defecten die de inspectieapparatuur ten onrechte registreert, heten nuisance defects.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Opbrengst en kwaliteitsbeheersing

  1. Welk diagram deelt gegevens in een aantal klassen in, toont de frequenties als staven en laat de vorm van de spreidingsverdeling zien?
  2. Welke procescapabiliteitsindex wordt gebruikt wanneer het procesgemiddelde van het midden van de specificatie is verschoven?
  3. Welke regeling corrigeert automatisch de procesvoorwaarden van de apparatuur voor het volgende lot of de volgende wafer op basis van onder meer de meetresultaten van het voorgaande proces?
  4. Welke methode brengt mogelijke faalwijzen van een product of proces in kaart, beoordeelt het effect en de ernst daarvan en treft vooraf maatregelen?
  5. Welk diagram wordt gebruikt om paren van twee kenmerkwaarden uit te zetten en het onderlinge verband te onderzoeken?