Siliciumwafers

Welke waarde ligt het dichtst bij de standaarddikte van een siliciumwafer van 300 mm?

  1. ACirca 5 mm
  2. BCirca 100 µm
  3. CCirca 775 µm
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: C. Circa 775 µm

De standaarddikte van een wafer van 300 mm is circa 775 µm. Hoe groter de diameter, hoe dikker de wafer, om doorbuiging onder het eigen gewicht en breuk tijdens transport te voorkomen (150 mm circa 675 µm, 200 mm circa 725 µm). Voor de componenten is slechts enkele µm aan het oppervlak nodig, maar de dikte is nodig voor de sterkte tijdens de processen. Na voltooiing wordt de achterzijde soms tot enkele tientallen µm dun geslepen voor dunnere behuizingen, warmteafvoer en TSV's.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Siliciumwafers

  1. Wat is het belangrijkste doel van het regelen van de verhouding (V/G) tussen de treksnelheid van het kristal en de temperatuurgradiënt in het kristal bij de CZ-methode?
  2. Wat is de typische productiemethode voor zeer zuiver polykristallijn silicium?
  3. Hoe heet een wafer die los van productwafers door het proces wordt gestuurd om onder meer de toestand van apparatuur te controleren en laagdiktes te meten?
  4. Wat is de juiste belangrijkste reden waarom siliciumwafers een hoge vlakheid moeten hebben?
  5. Welke apparatuur wordt in het algemeen gebruikt om een siliciumingot in één keer in veel wafers te zagen?

Vergelijkingen bij dit onderwerp