Siliciumwafers

Hoe heet een wafer die los van productwafers door het proces wordt gestuurd om onder meer de toestand van apparatuur te controleren en laagdiktes te meten?

  1. ASOI-wafer
  2. BEpitaxiale wafer
  3. CMonitorwafer (testwafer)
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: C. Monitorwafer (testwafer)

Een monitorwafer is een wafer die los van productwafers wordt gebruikt om onder meer de laagdikte van afzettingen, het aantal deeltjes, de etssnelheid en verontreiniging te controleren, en waarmee de toestand van apparatuur bij ingebruikname en periodiek onderhoud wordt gecontroleerd. Hij maakt het mogelijk items te controleren die op productwafers niet rechtstreeks kunnen worden gemeten, maar bij grote aantallen lopen de kosten op; daarom wordt het oppervlak na gebruik gepolijst en wordt de wafer herhaaldelijk als reclaimwafer gebruikt. Er wordt ook gewerkt aan het inbouwen van meetfuncties in de apparatuur om monitorwafers te verminderen.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Siliciumwafers

  1. Wat is de juiste belangrijkste reden waarom siliciumwafers een hoge vlakheid moeten hebben?
  2. Welke apparatuur wordt in het algemeen gebruikt om een siliciumingot in één keer in veel wafers te zagen?
  3. Wat is het belangrijkste doel van het afschuinen (bevelen) van de rand van een wafer?
  4. Welke onzuiverheid wordt typisch aan de smelt toegevoegd om bij de CZ-methode p-type siliciumkristal te maken?
  5. Bij de CZ-methode neemt de onzuiverheidsconcentratie toe naarmate men het onderste deel van het kristal (de tweede helft van het trekken) nadert. Wat is hiervoor de juiste reden?

Vergelijkingen bij dit onderwerp