Nederlands
Menu

Testen en inspectie

Hoe heet de test waarbij de voedingsstroom van een CMOS-schakeling in rusttoestand wordt gemeten om defecten zoals bridging-fouten te detecteren?

  1. AIDDQ-test
  2. BFunctietest
  3. CBurn-in
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. IDDQ-test

In rusttoestand is in een CMOS-schakeling altijd een van beide transistoren, de pMOS of de nMOS, uitgeschakeld, zodat vrijwel geen voedingsstroom vloeit. Bij kortsluiting tussen verbindingen (bridging) of defecten in het gateoxide vloeit in rusttoestand wel stroom van de voeding naar aarde, zodat defecten kunnen worden gedetecteerd door de voedingsstroom in rusttoestand (IDDQ) te meten. Door schaalverkleining is de lekstroom echter groter geworden, waardoor het onderscheid met goede producten moeilijker wordt.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Wat is het belangrijkste gebruik van boundary scan volgens IEEE 1149.1 (JTAG)?
  2. Welk apparaat voert in de eindtest na het verpakken, in combinatie met de tester, ICs automatisch toe en sorteert ze op basis van het testresultaat?
  3. Hoe heet een tweedimensionale grafiek waarin de slaag-/faalresultaten worden samengevat terwijl voorwaarden zoals voedingsspanning en bedrijfsfrequentie worden gevarieerd?
  4. Welke volgorde is juist voor de testflow van een gangbaar halfgeleiderproduct?
  5. Welke grootheden worden bij de AC-test voornamelijk gecontroleerd?

Vergelijkingen bij dit onderwerp