Nederlands
Menu

Testen en inspectie

Wat is KGD (Known Good Die), dat belangrijk is bij het monteren van meerdere chips in één behuizing?

  1. AEen grote chip
  2. BEen defecte chip
  3. CEen chip (die) waarvan vóór de montage is vastgesteld dat deze goed is
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: C. Een chip (die) waarvan vóór de montage is vastgesteld dat deze goed is

Wanneer meerdere chips in één behuizing worden opgenomen, is de gehele behuizing defect zodra één chip defect is, ook al zijn de overige chips goed. Bijvoorbeeld bij het stapelen van acht chips met een yield van 99 % daalt de kans dat alle chips goed zijn tot 0,99⁸ ≈ 92 %. Daarom is het belangrijk om vóór de montage op diniveau grondig geteste goede chips (KGD) te gebruiken; dit wordt vooral zwaar gewogen bij HBM en chiplets.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Hoe heet de methode waarbij een tester meerdere chips gelijktijdig meet om de testkosten te verlagen?
  2. Hoe heet het automatisch genereren van testpatronen voor het detecteren van fouten uit de netlijst van een schakeling?
  3. Hoe heet de test waarbij de voedingsstroom van een CMOS-schakeling in rusttoestand wordt gemeten om defecten zoals bridging-fouten te detecteren?
  4. Wat is het belangrijkste gebruik van boundary scan volgens IEEE 1149.1 (JTAG)?
  5. Welk apparaat voert in de eindtest na het verpakken, in combinatie met de tester, ICs automatisch toe en sorteert ze op basis van het testresultaat?