Testen en inspectie
Welke definitie van de foutdekking (fault coverage) van een testpatroon is juist?
- AHet aandeel van de aangenomen fouten dat door de test kan worden gedetecteerd
- BHet aandeel defecte producten onder de geleverde producten
- CHet aandeel goede chips op de wafer
Antwoord en toelichting tonen
Antwoord: A. Het aandeel van de aangenomen fouten dat door de test kan worden gedetecteerd
De foutdekking is het aandeel van alle gemodelleerde fouten dat door de testpatronen kan worden gedetecteerd. Het aandeel gemiste defecten wordt met de yield Y en de foutdekking T geschat als DL = 1 − Y^(1−T); zelfs bij Y = 0,5 en T = 99 % is dit circa 0,7 % (circa 7000 DPPM). Daarom worden bijvoorbeeld voor auto's waarden ruim boven 99 % geëist. Het is een andere maat dan het defectpercentage van geleverde producten of de yield zelf.