Metrologie en analyse

Welk apparaat tast het monsteroppervlak af met een dunne naald en meet uit de op- en neerwaartse beweging van de naald de staphoogte en de oppervlaktevorm?

  1. AMassaspectrometer
  2. BNaaldprofielmeter (stylus profiler)
  3. CEllipsometer
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Naaldprofielmeter (stylus profiler)

Een naaldprofielmeter tast met een dunne naald het oppervlak met een constante zwakke kracht af en meet uit de verticale verplaatsing van de naald de staphoogte en de golving van het oppervlak. Hij wordt gebruikt voor het controleren van etsdiepte, filmstappen en de vlakheid over een groot gebied na CMP. Het oplossend vermogen is grover dan bij AFM, maar kenmerkend is dat lange afstanden van millimeters kunnen worden gescand. Een massaspectrometer meet componenten en een ellipsometer de laagdikte.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Metrologie en analyse

  1. Hoe heet de methode waarbij laagdikte of afmetingen van niet gemeten wafers met een statistisch model worden voorspeld uit onder meer sensorgegevens van de apparatuur?
  2. Wat veroorzaakt gemakkelijk meetfouten wanneer met AFM de vorm van zeer smalle grachten of steile zijwanden wordt gemeten?
  3. Welke methode onderzoekt in een TEM, terwijl een fijne elektronenbundel scant, de verdeling van elementen en chemische toestanden door het energieverlies van getransmitteerde elektronen te meten?
  4. Welke analysemethode laat atomen één voor één door een elektrisch veld van de punt van een naaldvormig monster verdampen, detecteert hun positie en soort, en onderzoekt zo de driedimensionale atoomverdeling van onder meer dopanten?
  5. Welke methode beoordeelt de elektrische eigenschappen van oxidefilms en grensvlakken door zonder elektroden lading met een coronaontlading op het waferoppervlak aan te brengen en de verandering van de oppervlaktepotentiaal te meten?

Vergelijkingen bij dit onderwerp