Metrologie en analyse

Welke relatie wordt gebruikt om uit de verandering van de waferkromming voor en na laagafzetting de filmspanning te bepalen?

  1. ABlackvergelijking
  2. BStoney-vergelijking
  3. CPrestonvergelijking
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Stoney-vergelijking

De Stoney-vergelijking is een formule, σ = Es·hs²/(6(1−νs)hf) × (1/R − 1/R0), die uit de elasticiteitsmodulus Es, de Poisson-verhouding νs en de dikte hs van het substraat, de dikte hf van de film en de verandering van de waferkromming voor en na de afzetting de spanning in de film bepaalt. Een voordeel is dat de elastische constanten van de film niet bekend hoeven te zijn; de waferkromming wordt met laserreflectie gemeten om de spanning te beoordelen. De Blackvergelijking betreft elektromigratie en de Prestonvergelijking de polijstsnelheid bij CMP.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Metrologie en analyse

  1. SIMS meet de concentratie van onzuiverheidsatomen. Welke methode meet daarentegen de diepteverdeling van de elektrisch actieve dragerconcentratie?
  2. Hoe heet metrologie waarbij productwafers halverwege een proces in de productielijn worden gemeten om het proces te bewaken?
  3. Welke inspectie detecteert onder meer geleidingsdefecten van contacten met behulp van helderheidsverschillen door verschillen in oplading bij bestraling met een elektronenbundel?
  4. Welke methode voorkomt opladen (charge-up) bij het waarnemen van isolerende monsters met een SEM?
  5. Welke technologie wordt onderzocht en ingevoerd om de vorm van diepe gaten enz. driedimensionaal te meten zonder de doorsnede te vernietigen?

Vergelijkingen bij dit onderwerp