Metrologie en analyse

Welke voorbehandeling is nodig om een monster met een transmissie-elektronenmicroscoop (TEM) te bekijken?

  1. AHet monster tot een dikte van enkele cm opbouwen
  2. BHet monster zo dun bewerken, tot ongeveer 100 nm of minder, dat de elektronenbundel erdoorheen kan
  3. CHet monster in een vloeistof oplossen
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Het monster zo dun bewerken, tot ongeveer 100 nm of minder, dat de elektronenbundel erdoorheen kan

Een TEM vormt een beeld met elektronen die door het monster zijn getransmitteerd, dus het monster moet tot ongeveer 100 nm of minder worden verdund zodat de elektronenbundel erdoorheen kan. Bij halfgeleidercomponenten wordt vaak de lift-out-methode gebruikt, waarbij met FIB rond het te bekijken gebied wordt weggefreesd en een dunne plak wordt vrijgemaakt en afgewerkt. Bij een TEM met aberratiecorrectie wordt een oplossend vermogen van 0,1 nm of beter bereikt, waarmee zelfs de atoomrangschikking zichtbaar is. Als het monster dik wordt opgebouwd of wordt opgelost, kunnen elektronen er niet doorheen.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Metrologie en analyse

  1. Welk principe wordt gewoonlijk gebruikt in defectinspectieapparatuur die deeltjes en patroondefecten op wafers detecteert?
  2. Wat wordt hoofdzakelijk gemeten met een atoomkrachtmicroscoop (AFM)?
  3. Wat is te weten te komen met EDX (energiedispersieve röntgenspectroscopie), dat samen met SEM of TEM wordt gebruikt?
  4. Welke methode wordt veel gebruikt voor de analyse van sporen van metaalverontreiniging op het waferoppervlak?
  5. Wat kan worden beoordeeld met C-V-metingen (capaciteit-spanning) van een MOS-condensator?

Vergelijkingen bij dit onderwerp