Qu'est-ce que MEB (SEM, microscope électronique à balayage) ?

Microscope qui balaie la surface de l'échantillon avec un faisceau d'électrons focalisé et détecte notamment les électrons secondaires émis pour observer la topographie. Il permet d'observer des structures de quelques nm, invisibles au microscope optique.

Nom japonais: SEM(走査電子顕微鏡)

Domaine: Métrologie et analyse