Qu'est-ce que Équipement d'inspection des défauts ?

Équipement qui détecte les particules et défauts de motifs sur la plaquette. Il existe des méthodes détectant la lumière diffusée sous éclairement et d'autres comparant les images de puces voisines.

Nom japonais: 欠陥検査装置

Domaine: Métrologie et analyse

Termes associés

AFM (microscope à force atomique) CD-SEM DRX (XRD, diffraction des rayons X) EDX (spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie) Ellipsométrie FIB (faisceau d'ions focalisé) MEB (SEM, microscope électronique à balayage) Méthode des quatre pointes SIMS (spectrométrie de masse des ions secondaires) TEM (microscope électronique en transmission)

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