Qu'est-ce que DRX (XRD, diffraction des rayons X) ?

Méthode d'analyse qui détermine la structure cristalline, le paramètre de maille, les contraintes du film et la qualité cristalline à partir de l'angle et de l'intensité des rayons X diffractés par un cristal.

Nom japonais: XRD(X線回折)

Domaine: Métrologie et analyse

Termes associés

AFM (microscope à force atomique) CD-SEM EDX (spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie) Ellipsométrie Équipement d'inspection des défauts FIB (faisceau d'ions focalisé) MEB (SEM, microscope électronique à balayage) Méthode des quatre pointes SIMS (spectrométrie de masse des ions secondaires) TEM (microscope électronique en transmission)

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