Wat is IDDQ-test?
Test waarbij de voedingsstroom van een stilstaand CMOS-circuit wordt gemeten; is die abnormaal groot, dan wordt op een defect zoals een brugfout geoordeeld.
Japanse benaming: IDDQテスト
Vakgebied: Testen en inspectie
Verwante termen
ATE (automatic test equipment) ATPG (automatic test pattern generation) BIST (built-in self-test) Burn-in DFT (design for testability) Foutdekking (fault coverage) KGD (known good die) Probe card Scantest Stuck-at-fout