Qu'est-ce que FIT ?

Unité de taux de défaillance : 1 FIT correspond à 1 défaillance pour un milliard (10⁹) d'heures-composant. Utilisée pour les composants à très faible taux de défaillance comme les semi-conducteurs.

Nom japonais: FIT

« FIT » apparaît dans 14 questions d'entraînement réparties sur 7 thèmes, dont Semi-conducteurs automobiles et sécurité fonctionnelle, Fiabilité, Boîtiers et assemblage.

Domaine: Fiabilité

S'entraîner : questions sur FIT

Pour la PMHF, indicateur de la probabilité de violation d'un objectif de sécurité due aux défaillances matérielles aléatoires, la valeur cible indicative pour l'ASIL D est inférieure à 10 FIT. Quelle est cette valeur exprimée en probabilité par heure ?

  1. A1×10⁻⁶ /heure
  2. B1×10⁻⁸ /heure
  3. C1×10⁻¹⁰ /heure
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Réponse : B. 1×10⁻⁸ /heure

1 FIT correspond à 1 défaillance pour 10⁹ heures, soit 1×10⁻⁹ /heure. Ainsi, 10 FIT valent 10 × 10⁻⁹ = 1×10⁻⁸ /heure. La PMHF (Probabilistic Metric for random Hardware Failures) est la probabilité, exprimée par heure et moyennée sur toute la durée d'utilisation du véhicule, que l'objectif de sécurité soit violé à cause de défaillances matérielles aléatoires. Les valeurs cibles indicatives sont inférieures à 100 FIT (10⁻⁷ /heure) pour les ASIL B et C, et inférieures à 10 FIT pour l'ASIL D.

Le taux de défaillance total du matériel lié à la sécurité est de 1000 FIT, dont 5 FIT pour la somme des défaillances ponctuelles et des défaillances résiduelles (défaillances restant non détectées par les mécanismes de sécurité). Quelle est la valeur de l'indicateur de défaillances ponctuelles (SPFM) ?

  1. A99,5 %
  2. B95 %
  3. C99,95 %
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Réponse : A. 99,5 %

Le SPFM s'obtient en soustrayant de 1 le rapport entre « la somme des taux de défaillance ponctuelle et résiduelle » et « le taux de défaillance total lié à la sécurité ». Dans cet exemple, 1 − 5 / 1000 = 1 − 0,005 = 0,995, soit 99,5 %. Cela satisfait la valeur indicative de 99 % ou plus pour l'ASIL D. 95 % correspond à une proportion surestimée d'un ordre de grandeur, et 99,95 % à une proportion sous-estimée d'un ordre de grandeur. Pour augmenter le SPFM, on ajoute des mécanismes de sécurité à forte couverture de diagnostic afin de réduire les défaillances qui restent non détectées.

« FIT » dans les explications

Questions mentionnant « FIT » (14)

  1. Pour la PMHF, indicateur de la probabilité de violation d'un objectif de sécurité due aux défaillances matérielles aléatoires, la valeur cible indicative pour l'ASIL D est inférieure à 10 FIT. Quelle est cette valeur exprimée en probabilité par heure ?
  2. Le taux de défaillance total du matériel lié à la sécurité est de 1000 FIT, dont 5 FIT pour la somme des défaillances ponctuelles et des défaillances résiduelles (défaillances restant non détectées par les mécanismes de sécurité). Quelle est la valeur de l'indicateur de défaillances ponctuelles (SPFM) ?
  3. On a doté un circuit dont le taux de défaillance est de 200 FIT d'un mécanisme de sécurité ayant une couverture de diagnostic de 99 %. Quel est le taux de défaillance des défaillances qui restent non détectées par le mécanisme de sécurité ?
  4. Quelle signification de l'unité de taux de défaillance FIT est correcte ?
  5. En utilisant 10 000 composants de taux de défaillance 100 FIT, quelle valeur est la plus proche de l'espérance du nombre de défaillances en un an (environ 8 760 heures) ? (1 FIT = une défaillance pour 10⁹ heures)
  6. Quelle combinaison de descriptions des défaillances matérielles aléatoires et des défaillances systématiques distinguées dans l'ISO 26262 est correcte ?
  7. Quel symbole désigne la résistance thermique entre la jonction de la puce et l’air ambiant, qui exprime la capacité de dissipation thermique d’un boîtier ?
  8. Quel classement relatif à l’absorption d’humidité définit, pour les boîtiers montés en surface, la durée d’exposition admise entre l’ouverture de l’emballage étanche et la refusion ?
  9. Quel indicateur de qualité exprime le nombre de défauts pour un million de produits expédiés ?
  10. Quelle est la distinction généralement admise entre la « qualité » et la « fiabilité » d'un produit ?
  11. Quelles conditions d'essai de fiabilité sont appropriées pour garantir statistiquement un taux de défaillance très faible ?
  12. Quelle méthode est correcte pour évaluer en peu de temps la sensibilité aux erreurs logicielles dues aux neutrons cosmiques, en appliquant des neutrons bien plus intenses que dans l'environnement réel ?
  13. Quel indicateur sert à évaluer dans quelle mesure la vérification RTL a été suffisante ?
  14. Comment appelle-t-on le débit de données obtenu par unité de longueur de bord de puce, indicateur important des performances des interconnexions entre chiplets ?

Termes associés

Indice de capabilité du procédé (Cpk) MTTF (durée moyenne avant défaillance) Via Résistance thermique Absorption (perte de chiffres) Facteur d'accélération (speedup) RTL (niveau transfert de registres) Débit (throughput) Courbe en baignoire Électromigration

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