Semi-conducteurs automobiles et sécurité fonctionnelle
On a doté un circuit dont le taux de défaillance est de 200 FIT d'un mécanisme de sécurité ayant une couverture de diagnostic de 99 %. Quel est le taux de défaillance des défaillances qui restent non détectées par le mécanisme de sécurité ?
- A198 FIT
- B0,02 FIT
- C2 FIT
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Réponse : C. 2 FIT
La couverture de diagnostic (DC) est la proportion des défaillances que le mécanisme de sécurité peut détecter ou maîtriser. Le taux de défaillance des défaillances restantes est de 200 × (1 − 0,99) = 200 × 0,01 = 2 FIT. 198 FIT est le taux des défaillances que le mécanisme de sécurité peut détecter, et 0,02 FIT une valeur résultant d'une erreur d'ordre de grandeur dans la multiplication. Le taux de détection des défauts du test de production représente la proportion de pièces défectueuses trouvées avant expédition, alors que la couverture de diagnostic représente la proportion des défaillances survenant en cours d'utilisation qui sont détectées sur le moment : c'est là leur différence.
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