Einheit der Ausfallrate: 1 FIT entspricht einem Ausfall pro Milliarde (10⁹) Bauteilstunden. Sie wird für Teile mit sehr niedriger Ausfallrate wie Halbleiter verwendet.
Japanische Bezeichnung: FIT
Fachgebiet: Zuverlässigkeit
Arrhenius-Modell Badewannenkurve Elektromigration ESD (elektrostatische Entladung) Heiße-Ladungsträger-Injektion (HCI) Latch-up MTTF (mittlere Zeit bis zum Ausfall, mean time to failure) NBTI (Negative-Bias-Temperatur-Instabilität) Soft Error (temporärer Bitfehler) TDDB (zeitabhängiger dielektrischer Durchbruch, time-dependent dielectric breakdown)