Implantation ionique

Quel est l'avantage du dopage plasma, qui expose directement le wafer à un plasma contenant le dopant pour implanter des ions de basse énergie ?

  1. AL'analyse de masse permet de sélectionner exactement les ions visés
  2. BLes implantations à basse énergie et forte dose sont aisées, et le dopage est relativement uniforme même sur des structures tridimensionnelles
  3. CIl est adapté aux implantations profondes à haute énergie
Afficher la réponse et l'explication

Réponse : B. Les implantations à basse énergie et forte dose sont aisées, et le dopage est relativement uniforme même sur des structures tridimensionnelles

Contrairement aux méthodes à balayage de faisceau, le dopage plasma expose toute la surface du wafer aux ions en une fois, ce qui permet d'implanter en peu de temps des doses élevées de 10¹⁵ à 10¹⁶ cm⁻² même à basse énergie (1 keV ou moins). Comme les ions et radicaux arrivent de diverses directions, il facilite aussi le dopage des flancs de structures tridimensionnelles comme les ailettes des FinFET. En revanche, en l'absence d'analyse de masse, des éléments indésirables sont aussi introduits, et la mesure et le contrôle de la dose sont difficiles.

S'entraîner sur ce thème Retour au thème

Autres questions sur Implantation ionique

  1. Comment appelle-t-on le phénomène par lequel, lors d'une implantation avec wafer incliné, certaines zones situées dans l'ombre de motifs hauts comme la résine ne sont pas implantées ?
  2. Lors de l'activation des dopants par recuit, quelle propriété fixe la limite supérieure de la concentration électriquement activable ?
  3. Quelle caractéristique du recuit laser est correcte ?
  4. Quelle méthode permet d'uniformiser la dose sur la surface du wafer en implantation ionique ?
  5. Dans un implanteur ionique, quel composant mesure le courant de faisceau pour déterminer la quantité d'ions implantés (dose) ?

Comparatifs sur ce thème