量測與分析

對封裝或基板的配線送入高速脈衝,由反射回來的波形求出斷線或短路位置的方法是下列何者?

  1. AXPS
  2. BTDR(時域反射法)
  3. CAFM
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正確答案:B. TDR(時域反射法)

TDR是對配線輸入上升快速的脈衝,量測在阻抗改變之處反射回來的訊號之時間與形狀。若反射返回所需時間為t,則到該處的距離為使用訊號傳播速度v的 v·t/2。斷線(開路)時反射為正向,短路時為負向,因此也能區分種類,用於封裝或基板不良位置的找出。

  • A. XPS是調查表面元素與化學狀態的方法。
  • B. 正確。由反射波求出不良位置。
  • C. AFM是量測表面凹凸的方法。
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