量測與分析

作為局部且非破壞地評估矽所承受的應力(應變),常用的光譜法是下列何者?

  1. A拉曼光譜法
  2. B四探針法
  3. CC-V量測
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正確答案:A. 拉曼光譜法

拉曼光譜法是量測照射雷射光時,因與晶格振動交互作用而使波長略微偏移的散射光(拉曼散射)。無應力的矽峰位約在520 cm⁻¹,壓縮應力時向高側偏移,拉伸應力時向低側偏移,大約每500 MPa偏移1 cm⁻¹。由於雷射可聚焦到1 µm左右,能局部且非破壞地評估通道的應變與封裝的應力。

  • A. 正確。由拉曼位移評估應力。
  • B. 四探針法是量測電阻率的方法。
  • C. C-V量測是量測MOS結構電容的方法。
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