車載半導体と機能安全

車載用のICで、ウエハテストのときにロット番号・ウエハ番号・ウエハ上の座標などを、チップ内部の電気的に書き込める不揮発の記憶(ヒューズなど)に記録しておく主な目的はどれか。

  1. Aチップごとに異なる値を暗号の鍵として使い、車内のネットワークを流れる通信をすべて暗号化して盗聴を防ぐため
  2. B動作中のチップの温度を記録して、温度が上がりすぎないように制御するため
  3. C故障品が返ってきたときに、どのロット・ウエハ・位置のチップかを特定し、製造やテストの記録と照合するため
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正解:C. 故障品が返ってきたときに、どのロット・ウエハ・位置のチップかを特定し、製造やテストの記録と照合するため

パッケージに封止した後は、外から見てもチップがどのウエハのどの位置にあったかはわかりません。チップ内部に識別情報を書き込んでおけば、市場から故障品が返ってきたときに読み出して、製造の条件やウエハテストの測定値までさかのぼれます。同じ装置で処理された他の製品の影響範囲を絞り込むこともできます。これがチップ単位のトレーサビリティです。暗号の鍵には、読み出しにくい専用の仕組みを別に使うのが一般的です。

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車載半導体と機能安全のほかの問題

  1. 車載用ICの認定試験で、85 ℃・85%RHで1000時間行う高温高湿バイアス試験(THB)の代わりに、HAST(130 ℃・85%RH程度の加圧した水蒸気中でバイアスをかける試験)が使われることがある主な理由はどれか。
  2. 車載用ICのラッチアップ試験を、室温だけでなく製品の最高動作温度で行うことが求められる理由として正しいものはどれか。
  3. ICの部品単体のESD試験(HBMやCDM)と、完成した車載機器に対して行うシステムレベルのESD試験の違いとして正しいものはどれか。
  4. 機能安全の規格ISO 26262の説明として正しいものはどれか。
  5. 自動車の機能安全の考え方として正しいものはどれか。