Wat is Poisson-yieldmodel?
Model dat uitgaat van willekeurig verdeelde defecten en de yield uitdrukt als Y = exp(−D×A), met D de defectdichtheid en A het chipoppervlak.
Japanse benaming: ポアソン歩留まりモデル
Vakgebied: Opbrengst en kwaliteitsbeheersing
Halfgeleider-rekentools
Verwante termen
APC (advanced process control) FMEA (failure mode and effects analysis) Killer defect Oorzaak-gevolgdiagram Opbrengst (yield) Paretodiagram Procescapabiliteitsindex (Cpk) Regelkaart (control chart) SPC (statistische procesbeheersing) Systematische defecten