Was ist Poisson-Ausbeutemodell (Poisson yield model)?

Modell, das zufällig verteilte Defekte annimmt und die Ausbeute als Y = exp(−D×A) ausdrückt, wobei D die Defektdichte und A die Chipfläche ist.

Japanische Bezeichnung: ポアソン歩留まりモデル

Fachgebiet: Ausbeute und Qualitätskontrolle

Verwandte Begriffe

APC (fortgeschrittene Prozessregelung) Ausbeute (Yield) FMEA (Fehlermöglichkeits- und Einflussanalyse) Killerdefekt (killer defect) Pareto-Diagramm Prozessfähigkeitsindex (Cpk) Qualitätsregelkarte SPC (statistische Prozesslenkung, statistical process control) Systematischer Defekt Ursache-Wirkungs-Diagramm (Ishikawa)

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