Modèle supposant des défauts répartis aléatoirement, qui exprime le rendement par Y = exp(−D×A) (D : densité de défauts, A : surface de la puce).
Nom japonais: ポアソン歩留まりモデル
Domaine: Rendement et contrôle qualité
AMDE (FMEA, analyse des modes de défaillance et de leurs effets) APC (contrôle avancé des procédés) Carte de contrôle Défaut systématique Défaut tueur (killer defect) Diagramme causes-effet Diagramme de Pareto Indice de capabilité du procédé (Cpk) Rendement (yield) SPC (maîtrise statistique des procédés)