Wat is ICP (inductief gekoppeld plasma)?
Methode om een plasma met hoge dichtheid op te wekken door hoogfrequente stroom door een spoel te sturen. De plasmadichtheid en de energie van de ionen die de wafer bereiken zijn gemakkelijk afzonderlijk te regelen.
Japanse benaming: ICP(誘導結合プラズマ)
“ICP (inductief gekoppeld plasma)” komt voor in 2 oefenvragen uit 1 onderwerpen, bijv. Etsen.
Vakgebied: Etsen
ICP versus CCP
Bij een capacitief gekoppeld plasma (CCP) wordt RF-vermogen tussen parallelle plaatelektroden aangelegd, zodat hetzelfde vermogen dat het plasma in stand houdt ook de sheathspanning bepaalt; dichtheid en ionenenergie stijgen samen. CCP-dichtheden liggen doorgaans rond 10⁹–10¹⁰ cm⁻³ met hogere ionenenergieën, en CCP-tools, vaak met twee frequenties om beide deels te ontkoppelen, worden veel gebruikt voor het etsen van oxide en nitride met fluorkoolstofgassen. ICP-tools hebben de voorkeur voor silicium, polysilicium gates, metalen en verbindingshalfgeleiders, waar een hoge radicaalflux en een bescheiden ionenenergie gewenst zijn.
Veelgestelde vragen
Wat is het verschil tussen ICP-etsen en CCP-etsen?
ICP houdt het plasma in stand met een inductieve spoel en biast de wafer met een aparte RF-voeding, zodat plasmadichtheid en ionenenergie onafhankelijk in te stellen zijn en de dichtheid hoog is. CCP stuurt parallelle plaatelektroden aan, zodat dichtheid en ionenenergie gekoppeld zijn en de dichtheid lager is, wat goed past bij energierijk etsen van diëlektrica.
Welke plasmadichtheid haalt een ICP-etser?
Typische ICP-etsplasma's halen ongeveer 10¹¹–10¹² cm⁻³ bij drukken van enkele pascal of lager, ruwweg één tot twee ordes van grootte dichter dan een conventioneel capacitief gekoppeld plasma.
Is de ICP in ICP-MS hetzelfde als bij ICP-etsen?
Beide gebruiken een inductief gekoppeld plasma, maar ICP-MS werkt met een argonplasma bij atmosferische druk om een vloeibaar monster te ioniseren voor massaspectrometrie, terwijl een ICP-etser een reactief plasma bij lage druk gebruikt om materiaal van een wafer te verwijderen.