Wat is Eindpuntdetectie?

Het vaststellen van het moment waarop bij etsen de beoogde laag is weggeëtst. Vaak wordt hiervoor de verandering in het emissiespectrum van het plasma bewaakt.

Japanse benaming: 終点検出

“Eindpuntdetectie” komt voor in 3 oefenvragen uit 1 onderwerpen, bijv. Etsen.

Vakgebied: Etsen

Nu oefenen: vragen over Eindpuntdetectie

Welke methode wordt vaak gebruikt voor eindpuntdetectie bij droog etsen?

  1. ADe wafer wegen
  2. BDe verandering van het emissiespectrum van het plasma bewaken
  3. CNa het etsen visueel controleren
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. De verandering van het emissiespectrum van het plasma bewaken

Wanneer de film die wordt geëtst verdwenen is en de ondergrond zichtbaar wordt, veranderen de soort en hoeveelheid reactieproducten in het plasma en verandert de emissie-intensiteit bij bepaalde golflengten. Bij het etsen van oxide neemt bijvoorbeeld de emissie van CO (483 nm) af. Door deze verandering met optische-emissiespectroscopie (OES) te bewaken, kan het eindpunt van het etsen in real time worden gedetecteerd. Is het blootgelegde oppervlak zeer klein, dan is het signaal zwak en worden ook methoden zoals laagdiktemeting met een interferometer gebruikt.

“Eindpuntdetectie” in de toelichting

Vragen met “Eindpuntdetectie” (3)

  1. Welke methode wordt vaak gebruikt voor eindpuntdetectie bij droog etsen?
  2. Hoe heet het nog gedurende een bepaalde tijd doorgaan met etsen na detectie van het eindpunt, om de film over de hele wafer zeker te verwijderen?
  3. Hoe dik is de film die wordt weggeëtst als 3 minuten wordt geëtst bij een etssnelheid van 100 nm/min?

Verwante termen

Numerieke apertuur (NA) Overetsen Droog etsen Plasma Selectiviteit ALE (atomic layer etching) Anisotroop etsen Antenne-effect ARDE (aspect-ratio-afhankelijk etsen) Ashing

Naar de woordenlijst