歩留まり・品質管理

テストでは規格内でも、同じロットの分布から大きく外れた値を示すチップを不良として除く手法はどれか。

  1. AATPG
  2. BPAT(パーツ平均テスト)
  3. CAPC
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正解：B. PAT(パーツ平均テスト)

PAT(Part Average Testing)は、ロットやウエハごとの測定値の分布を求め、規格内であっても分布から大きく外れたチップを除外する手法です。このようなチップは潜在的な欠陥をもち、将来故障しやすい可能性があるため、車載用の半導体の品質向上に使われています。

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