Welches Verfahren sortiert Chips als fehlerhaft aus, die im Test zwar innerhalb der Spezifikation liegen, aber Werte weit außerhalb der Verteilung desselben Loses zeigen?

Antwort: B. PAT (Part Average Testing)

PAT (Part Average Testing) bestimmt die Verteilung der Messwerte je Los oder Wafer und sortiert Chips mit Ausreißern aus, die auch innerhalb der Spezifikation z. B. mehr als ±6σ vom Mittelwert abweichen. Der Grund ist, dass Ausreißer-Chips latente Defekte haben und mit hoher Wahrscheinlichkeit in Zukunft leicht ausfallen. Es dient der Qualitätssteigerung von Halbleitern für Fahrzeuge und ist auch in den Richtlinien des AEC (Automotive Electronics Council) festgelegt. ATPG ist die Mustererzeugung, APC die Prozessregelung.