Pour une puce défaillante au test par scan, comment appelle-t-on le traitement qui restreint logiquement les emplacements de faute probables à partir des sorties et des vecteurs présentant des discordances ?

Réponse : A. Diagnostic de fautes

Le diagnostic de fautes confronte les résultats de test d'une puce défaillante aux résultats de simulations supposant des fautes, afin de restreindre les nets ou cellules candidats à la faute. Il permet de cibler l'emplacement des coupes lors de l'analyse de défaillance physique, ce qui réduit fortement le temps d'analyse. Le diagnostic en volume, qui agrège statistiquement les diagnostics de nombreuses puces défaillantes, détecte les défauts systématiques concentrés sur certains motifs d'interconnexion ou certaines cellules et contribue à l'amélioration du rendement.