Welke methode genereert testpatronen door defecten zoals kortsluiting en onderbreking van transistoren binnen een standaardcel te modelleren op basis van de schakeling van de cel?

Antwoord: B. Cell-aware test

De conventionele modellen, zoals stuck-at-fouten, richtten zich alleen op de in- en uitgangspennen van de cel. Bij de cell-aware test worden uit de layout van de cel mogelijke kortsluitingen en onderbrekingen van transistoren gehaald en elk op transistorniveau gesimuleerd, en worden de invoercombinaties waarmee ze kunnen worden gedetecteerd in de patroongeneratie opgenomen. Dit helpt defecten op de markt te verminderen die worden veroorzaakt door de defecten binnen cellen die bij fijne processen zijn toegenomen.