테스트와 검사
스탠더드 셀 내부 트랜지스터의 단락이나 개방 등의 결함을, 셀의 회로를 바탕으로 모델화하여 테스트 패턴을 생성하는 기법은?
- A외관 검사
- B셀 어웨어 테스트
- CIDDQ 테스트만
정답과 해설 보기
정답: B. 셀 어웨어 테스트
종래의 고착 고장 등의 모델은 셀의 입출력 단자에만 주목했습니다. 셀 어웨어 테스트에서는 셀의 레이아웃에서 일어날 수 있는 트랜지스터의 단락이나 개방 등을 추출하고, 각각을 트랜지스터 레벨로 시뮬레이션하여 검출할 수 있는 입력 조합을 패턴 생성에 반영합니다. 미세 공정에서 늘어난 셀 내부 결함에 의한 시장 불량을 줄이는 데 도움이 됩니다.
- A. 외관 검사로는 내부의 전기적 결함을 찾을 수 없습니다.
- B. 올바릅니다. 셀 내부 결함을 모델화하는 기법입니다.
- C. IDDQ 테스트는 전원 전류로 결함을 검출하지만, 셀 내부 결함의 모델화와는 별개의 기법입니다.