Pourquoi exige-t-on que l'essai de latch-up des CI automobiles soit réalisé non seulement à température ambiante, mais aussi à la température maximale de fonctionnement du produit ?

Réponse : B. Parce que plus la température est élevée, plus le gain en courant des transistors parasites et la résistance des caissons augmentent, ce qui favorise le latch-up

Le latch-up CMOS est un phénomène dans lequel les transistors pnp et npn formés de manière parasite conduisent comme un thyristor, laissant circuler en continu un courant important. Lorsque la température augmente, le gain en courant des transistors parasites croît et les résistances du caisson et du substrat augmentent aussi, si bien qu'un faible courant suffit à déclencher la conduction. On réalise donc les essais d'injection de courant dans les broches ou d'application de surtension également à la température maximale de fonctionnement, la plus sévère. La haute température ne sert pas à assouplir les conditions, et l'essai est mené séparément de l'essai ESD.