車用半導體與功能安全
車用IC的閂鎖效應(latch-up)試驗不僅要在室溫下進行,也要求在產品的最高動作溫度下進行,正確的理由是下列何者?
- A溫度越高寄生電晶體越不易作用,越不容易發生閂鎖效應,因此能在容易合格的條件下試驗
- B溫度越高寄生電晶體的電流增益與井的電阻越大,越容易發生閂鎖效應
- C在高溫下ESD保護電路會失效,因此能同時完成ESD的試驗
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正確答案:B. 溫度越高寄生電晶體的電流增益與井的電阻越大,越容易發生閂鎖效應
CMOS的閂鎖效應是指寄生形成的pnp與npn電晶體以閘流體的形式導通,持續流過大電流的現象。溫度升高時,寄生電晶體的電流增益上升,井與基板的電阻也變大,因此即使微小的電流也容易引起導通。所以,對端子注入電流或施加過電壓的試驗,也要在最嚴苛的最高動作溫度下進行。高溫並非為了放寬條件,而且也與ESD的試驗分開進行。
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