Halfgeleiders voor auto's en functionele veiligheid
Waarom wordt geëist dat de latch-uptest van IC's voor auto's niet alleen bij kamertemperatuur maar ook bij de maximale bedrijfstemperatuur van het product wordt uitgevoerd?
- AOmdat parasitaire transistors bij hogere temperatuur minder goed werken en latch-up minder snel optreedt, zodat onder gunstige condities kan worden getest
- BOmdat bij hogere temperatuur de stroomversterking van parasitaire transistors en de weerstand van de well groter worden, waardoor latch-up gemakkelijker optreedt
- COmdat ESD-beveiligingscircuits bij hoge temperatuur niet meer werken, zodat ook de ESD-test meteen kan worden afgerond
Antwoord en toelichting tonen
Antwoord: B. Omdat bij hogere temperatuur de stroomversterking van parasitaire transistors en de weerstand van de well groter worden, waardoor latch-up gemakkelijker optreedt
Latch-up in CMOS is een verschijnsel waarbij parasitair gevormde pnp- en npn-transistors als thyristor gaan geleiden en er voortdurend een grote stroom blijft lopen. Bij stijgende temperatuur neemt de stroomversterking van de parasitaire transistors toe en wordt ook de weerstand van de well en het substraat groter, zodat al een kleine stroom geleiding kan veroorzaken. Daarom wordt de test, waarbij stroom in de pinnen wordt geïnjecteerd of overspanning wordt aangelegd, ook bij de zwaarste conditie, de maximale bedrijfstemperatuur, uitgevoerd. De hoge temperatuur dient niet om de condities te versoepelen, en de test staat ook los van de ESD-test.
Verder: nog 9 vragen over Halfgeleiders voor auto's en functionele veiligheid